ஜர்னல் ஆஃப் நானோ மெட்டீரியல்ஸ் & மாலிகுலர் நானோடெக்னாலஜி

Characteristics of Dielectric Dispersion in Epoxy/Polyhedral Oligomeric Silsequioxane Nanocomposites

Eed H and Zihlif AM

Characteristics of Dielectric Dispersion in Epoxy/Polyhedral Oligomeric Silsequioxane Nanocomposites

Multiple-arc analysis is used in conjunction with a generalized relaxation time distribution (GRTD) to derive dielectric constant, dielectric loss and a.c conductivity relations as function of frequency for epoxy/ polyhedral oligomericsilsequioxane (POSS) nanocomposites. The validity of this methodology is examined by comparing reported measurements with those calculated from relations obtained. The values are shown to agree satisfactorily over the frequency range 100kHz to 1000kHz.
 

மறுப்பு: இந்த சுருக்கமானது செயற்கை நுண்ணறிவு கருவிகளைப் பயன்படுத்தி மொழிபெயர்க்கப்பட்டது மற்றும் இன்னும் மதிப்பாய்வு செய்யப்படவில்லை அல்லது சரிபார்க்கப்படவில்லை